Modeling and interference-microscopy characterization of graded index transitions in ion-exchange waveguide integrated elements: transitions between annealed surfaces

  1. Lopez-Lago, E.
  2. Liñares, J.
  3. Salmio, R.-P.
  4. Saarinen, J.
  5. Kuittinen, M.
  6. Turunen, J.
  7. Vahimaa, P.
Revista:
Optical and Quantum Electronics

ISSN: 0306-8919

Ano de publicación: 2000

Volume: 32

Número: 11

Páxinas: 1269-1281

Tipo: Artigo

DOI: 10.1023/A:1007087817512 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus