Testing two techniques for wavefront analysisSpecific applications and comparative study

  1. S. Vallmitjana 1
  2. A. Marzoa 1
  3. S. Bosch 1
  4. E. Acosta 2
  1. 1 Departament de Física Aplicada, Facultat de Física, Universidad de Barcelona
  2. 2 Departamento de Física Aplicada, Universidade de Santiago de Compostela, Facultade de Óptica e Optometrí
Revista:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Año de publicación: 2017

Volumen: 50

Número: 4

Páginas: 327-335

Tipo: Artículo

DOI: 10.7149/OPA.50.4.49022 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

Otras publicaciones en: Óptica pura y aplicada

Resumen

Este trabajo se centra en la descripción de dos técnicas diferentes para caracterizar un frente de onda: mediante sensor Shack-Hartmann (SH) e interferometría de difracción por orificio o point-diffraction interferometer (PDI). Además detalla un ejemplo de aplicación de cada una de ellas en investigaciones recientes, y finalmente se realiza un estudio comparativo de ambas técnicas sobre un mismo sistema óptico.

€ Ver financiación

Información de financiación

This work was supported by the “Agencia Estatal de Investigación” (AEI) and the “Fondo Europeo de Desarrollo Regional” (FEDER), under Project FIS ?? -7? 73? 19-C2-2-R of the Spanish “Ministerio de Economía, Industria y Competitividad”.

Financiadores

Fuente de los datos: Dialnet